X射線線陣列探測系統
英國Sens-Tech 公司是X 射線探測器和信號數據采集系統的專業開發商、供應商,其在X 射線線掃描成像和CT 領域擁有豐富且成功的經驗和技術。Sens-Tech 的系統集成信號探測、模擬信號放大、數字信號輸出于一體,有多種控制功能可選擇,可方便的與計算機連接,實現圖像或信號的數字化處理。
X射線線陣列探測系統
探測器有硅光電二管陣列和閃爍晶體組成。二管陣列可以是一維或者兩維掃描方式, 由具體應用決定。選擇探測器需要充分考慮光譜響應、電容、暗電流、靈敏度、探測面積以及串擾的影響,并選用與閃爍晶體的發射波段相匹配的探測器。并盡可能降低暗噪聲,減小偏移量,獲得的響應。同時,讓各探測單元的探測面積和串擾達到*化。
閃爍晶體根據探測能量的不同,厚度和尺寸可以根據用戶的要求進行定制。
Sens-Tech 公司目前主要提供四種X 射線數據采集產品:XDAS-V3 系列、XDAS-HE 系列、LINX 系列
Sens-Tech 標準產品的參數
| 材料 | 厚度 | 能量范圍 | 每單位能量的信號輸出 | 信號衰減時間 | 備注 | 
| Silicon  | 300μm  | 5-30keV  | zui高,直接轉化 | 1us (非偏置)  | 光電二管直接探測,不使用閃爍晶體 | 
| Gadox(Tb)  | 0.31mm  | 20-100keV  | 近似CsI  | 2-3ms  | 熒光條,無法進行像素分割來防止串擾 | 
| Gadox A  | 0.2mm  | 低于Gadox(Tb)20%  | <1ms  |   | 
| Gadox B  | 0.4mm  | 高于Gadox(Tb)10%  | <1ms  |   | 
| CsI(Tl)  | 0.4-4mm  | 40-160keV  | 光轉換效率zui高 | 2個不同的衰減時間, 微妙級 | 像素被分割成陣列,以減少串擾 | 
| CdWO4  | 2.5-30mm  | 150keV-9MeV  | 約為CsI的25%  | 20us  | 像素被分割成陣列,以減少串擾,價格昂貴 | 
| GOS  | 2.9mm  | 100-200keV  | 20% than CdWO4  | 3us  | 抗強輻射 |